Išplėstinė paieška
 
 
Pradžia>Elektronika>Matavimo teorija

Matavimo teorija

  
 
 
1234
Aprašymas

Netiesiškumo paklaida. Multiplikatyvinės paklaidos (gain error). Adityvinės paklaidos (offset error). Kvantavimo paklaida. Diskretizavimo paklaida. Pagal matuojamo dydžio kitimą laike paklaidos skirstomos į statines ir dinamines. Pagal pasireiškimo vietą matavimo procese: Metodo paklaidos. Instrumentinės (arba matavimo priemonių) paklaidos. Subjektyvios paklaidos. Pagal pasireiškimo būdą: Atsitiktinės paklaidos. Sistemingosios paklaidos. Fazinio kampo matavimas. Grandžių fazinių charakteristikų matavimas. Fazinių matavimų ypatumai. Fazinio kampo matavimo metodai. Fazometras su formuotuvais (elektroninis fazometras). Kompensacinis matavimo metodas. Fazinio kampo matavimas aukštuose dažniuose. Galios matavimas. Elektrinės galios matavimas. Galios matavimas pramoninių dažnių grandinėse. Galios matavimas aukštuosiuose dažniuose. Galios matavimas mikrobangiame ruože. Kalorimetras. Balometrai arba termistoriai. Keitikliai K/A ir A/K. Dažnio ir laiko intervalų matavimas. Skaitmeninis dažnio matavimas. Dažnio matavimas palyginimo metodu. Dažnių matavimas mikrobangiame ruože.

Rašto darbo duomenys
DalykasElektronikos špera
KategorijaElektronika
TipasŠperos
Apimtis9 puslapiai 
Dydis325.11 KB
Failo pavadinimasMicrosoft Word matavimo speros [speros.lt].doc
 

Panašūs darbai

  • Šperos
  • 9 puslapiai 
  • Kauno Technologijos Universitetas / 2 Klasė/kursas
Pasidalink su draugais